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2001 6th International Workshop on Statistical Methodology: Iwsm: June 10, 2001/Kyoto

2001 6th International Workshop on Statistical Methodology: Iwsm: June 10, 2001/Kyoto

2001 6th International Workshop on Statistical Methodology: Iwsm: June 10, 2001/Kyoto

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The proceedings of the 6th International Workshop on Statistical Metrology, held in 2001. The papers cover: yield ramping methodology, metrology for statistical process control, sensor and measurement technology, spatial and temporal variation analysis methods, robust design, and more.

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155,00 CHF

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Artikelnummer 9780780366886
Status Fremdlagertitel. Lieferzeit unbestimmt
Autor IEEE Electron Devices Society
Einband Fester Einband
Sprache eng
Seiten 67
Verlag Inst Of Electrical & Electroni
Reihe IEEE Conference Proceedings
Publikationsjahr 200101

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