European Test Workshop (Etw 2000) [Postproceedings]

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The 25 papers cover delay testing and test scheduling, scan and functional testing, system testing, quiescent current testing, analog and mixed-signal testing, core-based testing, fault simulation and field programmable gate array testing, challenges in deep sub-micron testing, high level tests, mem

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Artikelnummer 9780769507019
Status Fremdlagertitel. Lieferzeit unbestimmt
Autor Ieee
Einband Kartonierter Einband (Kt)
Sprache eng
Seiten 181
Verlag Ieee Computer Soc Pr
Publikationsjahr 200011

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