info@buecher-doppler.ch
056 222 53 47
Warenkorb
Ihr Warenkorb ist leer.
Gesamt
0,00 CHF
  • Start
  • Neutron and X-ray Reflectometry: Emerging phenomena at heterostructure interfaces

Neutron and X-ray Reflectometry: Emerging phenomena at heterostructure interfaces

Angebote / Angebote:

This book introduces the techniques of neutron and x-ray reflectometry and presents the studies carried out to date, using the techniques to understand emerging phenomena at the interfaces of thin films.
Folgt in ca. 15 Arbeitstagen

Preis

218,00 CHF

Artikel, die Sie kürzlich angesehen haben