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Nonlinear Transistor Model Parameter Extraction Techniques

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Artikelnummer 9780521762106
Status Folgt in ca. 15 Arbeitstagen
Autor Rudolph, Matthias / Fager, Christian (Chalmers University of Technology, Gothenberg) / Root, David E.
Einband Fester Einband
Sprache eng
Seiten 366
Verlag Cambridge University Press
Reihe The Cambridge RF and Microwave Engineering Series
Publikationsjahr 20111013

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