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VLSI Test Symposium (Vts 2003)

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The proceedings of the 21st IEEE VLSI test symposium (VTS (2003) describing innovations in the testing of integrated circuits and systems.

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212,00 CHF

Verfügbarkeit:

Lieferbar

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Produktinformation

Artikelnummer 9780769519241
Status Fremdlagertitel. Lieferzeit unbestimmt
Autor Ieee
Einband Fester Einband
Sprache eng
Seiten 492
Verlag Institute of Electrical & Electronics Engineers(IEEE)
Publikationsjahr 200301

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